从理论上讲，双晶探头两个延迟块的声波传播时间应当是相同的。但在实际制作过程中两个延迟块的几何尺寸或声时很难做到一致。这样一来，用方法1校准时，由于是通过获取探头发射单侧的延迟时间来进行的，探头两边不具有互换性。必须指定一边为发射，另一边为接收，以避免两边延迟时间不一致带来测量误差。方法2分别获取收、发两个延迟块的延迟时间用于校准，因此探头两边可以互换（忽略晶片的差异）。方法3与方法1，2不同，方法3获取的传播时间t中包含了发射、接收两个延迟块的延迟时间。因此，无论怎样调换总的延迟时间都是相同的。即：采用方法校零的仪器，可以不考虑探头延迟块不一致的问题，在多数情况下探头两端可以互换（忽略晶片的差异）。但是，方法3不能去除温度及探头磨损的影响，为了保持测量精度应当经常校准仪器。
用界面信号S控制厚度方波的起始。界面信号S始终跟随着延迟块的变化，无论环境温度变化或探头磨损。超声测厚仪的零点校准与温度变化对测量值的影响另一方面，我们也要看到，界面信号S其幅度及相位与耦合状况及被测物材料有关。由超声物理基础可知：超声波垂直入射到平界面上时，反射声压（即界面波）仅与界面两侧介质的声阻抗有关。例如探头延迟块为有机玻璃材料，被测物为钢材料，超声波由有机玻璃垂直入射到有机玻璃-钢界面时的声压入射、反射与透射情况。有机玻璃-钢界面声压反射率为：当被测物为有机玻璃材料，或着是声阻抗与有机玻璃接近的某种材料时，声压反射率r接近于零。因此，采用方法4校零的仪器，当被测物材料与探头延迟块接近时，可能出现没有界面波而不能测量的情况。采用方法5的仪器，由于没有二次底波，因此也不能实现测量。当被测物的声阻抗小于延迟块的声阻抗时界面信号S会反相。这对于采用半波整流且用方法4/校零0的测厚仪，会带来半个周期的测量误差（取决于探头频率）。
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