如何有效地测量样品的质量厚度

式中是拟合系数，是光子波长。结合Kramer连续谱理论，近似得到X射线穿过一定质量厚度样品后的能谱分布。对计算的能谱进行积分，得到探测器的输出。此法对X射线吸收的理论模拟和实验结果，都表明在一定的样品厚度范围内，加吸收片可得到X射线的等效能量，这种能量的射线可有效地测量样品的质量厚度。

单组分样品等效质量衰减系数的理论计算模拟实验的样品分别由9片铝和9片有机玻璃组成。铝片厚度为0.35mm，有机玻璃片厚度为2.0mm.根据X射线吸收的理论模型，分别计算出管压为30kV和45kV下有机玻璃和铝对X射线等效质量衰减系数。两图表明，X射线穿过不同厚度的铝片和有机玻璃片后强度相对减弱的对/i）与样品的质量厚度都有很好的线性关系。

在计算的样品厚度范围内，线性相关系数均好于/i）与有机玻璃质量厚度的关系核技术/i）与铝质量厚度的关系双组分样品质量厚度测量原理加吸收片后，X射线管产生的特征光子被大量吸收，只需考虑X射线穿过样品的连续谱衰减。连续谱包含各种能量的光子，根据射线在样品中的衰减规律，计算双组分样品的质量厚度式中，μ分别是两种样品在低能和高能的质量衰减系数，与光子能量E有关。