废电脑回收：加快早期设计探索和验证，缩短上市时间

芯片级验证的挑战

鉴于先进工艺设计的规模和复杂性，而且各方为抢先将产品推向市场而不断竞争，片上系统(SoC)设计团队没有时间等到所有芯片模块都全部完成后才开始组装芯片。因此，SoC设计人员通常会在模块开发的同时开始芯片集成工作，以便在设计周期的早期捕获并纠正任何布线违规，从而帮助缩短至关重要的上市时间。错误在早期阶段更容易修复，而且对版图没有重大影响，设计人员在此阶段消除错误，可以减少实现流片所需的设计规则检查(DRC)迭代次数（图1）。

但是，早期阶段芯片级物理验证面临许多挑战。通常，在布局规划的早期阶段，未完成模块中报告的违规数量非常多，导致此现象的原因是许多系统性问题可能广泛分布在整个设计中。系统性问题的典型例子包括SoC级别的模块布局偏离网格、SoCMACRO封装外发生IP合并、保留布线层上发生IP布线、时钟网络上的过孔类型不正确，以及SoC中IP布局方向不匹配，如图2所示。在这个阶段区分模块级违规和顶层布线违规并非易事。